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Mikroskopie-Zubehör > Kameras > Software > ZEISS > ZEISS Software ZEN Modul Technical Cleanliness Analysis
Artikel-Nr.: 79109

Software ZEN Modul Technical Cleanliness Analysis

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Artikelbeschreibung

410136-0128-350

ZEN Modul Technical Cleanliness Analysis Software Modul zur Bewertung partikulärer Verunreinigungen auf präparierten Proben. Die folgenden Normen zur Bauteilsauberkeit, Ölreinheit und Reinheit medizinischer Produkte werden unterstützt: VDA 19.1, ISO 16232, ISO 4406, ISO 4407, NAS 1638, SAE AS 4059, VDI 2083 (Blatt 21). Im Lieferumfang enthalten sind vorkonfigurierte, automatisierte Arbeitsabläufe für Supervisor und Operator zur Analyse und Bewertung der Technischen Sauberkeit auf einzelnen und multiplen Proben. Bereitgestellte Arbeitsabläufe (I-V): (I) Automatischer Arbeitsablauf zur Bildaufnahme von Multikanal-Bildern mit verschiedenen Polarisationsrichtungen in Kombination mit Axiocam 705 pol, primär zur Evaluierung der Bauteilsauberkeit und Bewertung der technischen Sauberkeit medizinischer Produkte. Der Einsatz neuester Kamerasensor Technologie mit On-Chip-Polarisation ermöglicht den Arbeitsablauf mit einer einzelnen Probenaufnahme anstatt einer zweifachen Aufnahme der vollständigen Probenfläche mit verschiedenen Kontrastverfahren. Dies führt zu einer signifikanten Zeitersparnis. (II) Automatischer Arbeitsablauf mit Bildaufnahme von Einkanal-Bildern primär zur Analyse der Ölreinheit. (III) Automatischer Arbeitsablauf zur Bauteilsauberkeitsprüfung mit KI- basierter Objektklassifikation. Enthält trainierbare, vortrainierte Modelle zur KI-basierten Analyse von Multikanal-Bildern mit verschiedenen Polarisationsrichtungen. Das weitere Training von enthaltenen vortrainierten Modellen erfordert zusätzlich das ZEN Toolkit AI. (IV) Arbeitsablauf am Lichtmikroskop zur korrelativen technischen Sauberkeitsanalyse (Bauteilsauberkeit und Ölreinheit) mit automatischer und/oder manueller Partikelselektion zur nachfolgenden SEM/EDS Analyse im Freien Modus. Erfordert zusätzlich das ZEN Toolkit Connect. (V) Arbeitsablauf am Lichtmikroskop zur korrelativen technischen Sauberkeitsanalyse mit KI-basierter Objektklassifikation. Enthält trainierbare, vortrainierte Modelle zur KI-basierten Analyse von Multikanal-Bildern mit verschiedenen Polarisationsrichtungen. Unterstützt automatische und/oder manuelle Partikelselektion zur nachfolgenden SEM/EDS Analyse im Freien Modus. Das weitere Training von enthaltenen vortrainierten Modellen erfordert zusätzlich das ZEN Toolkit AI. Erfordert zusätzlich das ZEN Toolkit Connect. Die Arbeitsabläufe umfassen Bildaufnahme, Bildanalyse und Bildverarbeitung; die Ergebnisdarstellung in interaktiven Ansichten zur schnellen Inspektion und Revision der detektierten Partikel; Berichte je untersuchter Probe mit Resultaten zu Kenngrößen und normspezifischen Methoden. Automatisches speichern der erzeugten Ergebnisse und Inspektionsansichten im Datenarchiv. Inspektion und Export archivierter Daten.

Technische Daten

Sonstiges


Lieferanten Produktnummer
410136-0128-350

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